渣打银行数字测试（精选8篇）
一个是折线图，三个不同entity 5年的产量，其中一道题问这三个entity共同下降的是哪一年，因为其中有一个entity每年的产量都在上涨，我选择的答案是no year
还有一个很彩的图表+扇形图，问5个分店的销售情况，也很简单，其中一题问store2 和 store4的销售比值 我算了等于0.78 约等于选项中的0.8了。
目前我国通信行业最常用的数字电缆标准有三种:a.由我国信息产业部颁布实施的YD/T 1019—2001《数字通信用实心聚烯烃绝缘水平对绞电缆标准》;b.由美国通信工业协会/电子工业协会颁布的TIA/EIA《568商业建筑物电信布线系列标准》;c.由国际标准化组织和国际电工委员会颁布的第二版ISO/IEC 11801—2002《信息技术—用户建筑群的通用布缆标准》。YD/T 1019—2001标准是适用于数字电缆产品的标准, 也就是还未埋进墙体里的电缆;而TIA/EIA 568系列标准和ISO/IEC 11801—2002标准是适用于已经布进墙体里安装完成的整个数字电缆系统。TIA/EIA 568系列标准和ISO/IEC 11801—2002标准其实类似于我国的GB/T 50312—2000《建筑与建筑群综合布线系统工程验收规范》, 只不过GB/T 50312标准只定义到100 MHz的5类缆, 而TIA/EIA 568系列标准已定义到250 MHz的6类缆, ISO/IEC 11801—2002标准已定义到600 MHz的F类缆, 也就是7类缆了。YD/T 1019—2001标准目前定义到250 MHz的6类缆。对于这些标准的适用范围, 很多数字电缆生产商、集成商、用户的概念还很模糊。有些数字电缆生产厂可能会碰到这样的情况:厂家自己检验通过的数字电缆拿到检验机构测试就通不过了。仔细查看生产厂家的测试设备、测试方法后发现, 这些厂家一般配备的设备都是手持式测试仪, 而该仪器往往用于工程布线测试, 仪器中设定的标准一般都是ISO/IEC 11801—2002、TIA/EIA 568系列等国际标准, 是针对整个布线系统的测试标准, 一般会建立通道测试 (Channel) 和永久链路测试 (Permanent Link) 两种模型。这与单纯的数字电缆产品测试不同, 两者的测试定义不同, 针对每个参数的计算公式也不同, 当然典型频率点的限定值也不同, 如果不了解这些测试标准、测试背景, 在测试时难免会出现差异。
2 数字电缆测试的典型参数
本文以频率在1 MHz≤f≤100 MHz范围内, 最常见的数字电缆 (导体直径为0.5 mm, 特性阻抗为100 Ω的非屏蔽5e类缆100 m) 为例, 比较YD/T 1019—2001标准、TIA/EIA 568系列标准与ISO/IEC 11801—2002标准规定的数字电缆测试的典型参数。
2.1衰减
当电缆特性阻抗与试验仪器阻抗匹配时, 100 m长电缆的衰减常数
式中f为工作频率。
衰减在TIA/EIA 568系列标准与ISO/IEC 11801—2002标准中称为插入损耗αIL, 且两者的规定基本一致。在TIA/EIA 568 B.1标准中给出了通道测试模式的测算公式αIL, channel=α1+α2+α3, 其中α1为限值4个连接器的损耗, α2为90 m水平布缆的损耗, α3为10 m连接线的损耗;永久链路测试模式的测算公式αIL, permanent link=α′1+α2, 其中α′1为限值3个连接器的损耗;并作了相应的规定:
α (f) IL, channel≤1.05
式中L为电缆长度, L=90 m;n为测试链路里含有的连接器数, n=3。
由于衰减与被测电缆的长度有关, 长度越长衰减越大, 所以为了保证测试的准确性, 在布线系统中要求通道链路不超过100 m, 永久链路不超过90 m。当然, 如果电缆和连接件性能都非常好, 配合也非常好, 只要能通过布线认证测试的各项技术参数要求, 那么即使电缆长度超过标准要求也没有问题。
表1为YD/T 1019—2001标准与TIA/EIA 568 B.1—2001标准和ISO/IEC 11801—2002标准对100 Ω的5e类缆衰减规定的对比。
注1) :ISO/IEC 11801—2002标准规定, 在某些频率点的插入损耗计算结果小于4.0 dB的应按4.0 dB计算。
2.2近端串音衰减 (NEXT)
近端串音衰减
可以看出, 国际布线标准中有关于数字电缆本身的限值与我国标准还是一致的, 只是增加了αNEXT, connector。表2为YD/T 1019—2001标准与TIA/EIA 568 B.1—2001标准和ISO/IEC 11801—2002标准对100 Ω的5e类缆NEXT规定的对比。
2.3近端串音衰减功率和 (PSNEXT)
PSNEXT是其他线对对其中一对线的串扰的代数和。正向传输的第j对线的近端串音衰减功率和为
可以看出, 国际布线标准中关于数字电缆本身的限值与我国标准一致, 只是增加了αPSNEXT, connector。表3为YD/T 1019—2001标准与TIA/EIA 568 B.1—2001标准和ISO/IEC 11801—2002标准对100 Ω的5e类缆PSNEXT规定的对比。
2.4等电平远端串音衰减 (ELFEXT)
由于信号的强度与它所产生的串扰及信号在发送端的衰减程度有关, 使得电缆长度对测量到的远端串音衰减 (FEXT) 的影响很大, 即两条一样的电缆, 也会因为长度不同而有不同的FEXT值, 因此FEXT并不是一种很有效的测试指标, 必须以ELFEXT的测量来代替。ELFEXT其实就是FEXT减去衰减量后的值。等电平远端串音衰减
TIA/EIA 568系列标准与ISO/IEC 11801—2002标准中对等电平远端串音衰减的规定基本一致,
式中n为测试链路里含有的连接器个数, 一般取n=3。
表4为YD/T 1019—2001标准与TIA/EIA 568 B.1—2001标准和ISO/IEC 11801—2002标准对100 Ω的5e类缆ELFEXT规定的对比。
2.5回波损耗 (RL)
任何数字电缆都不可能绝对无缺陷, 因此对入射波均有反射, RL就是用来衡量数字电缆的反射波大小。RL合并了与标称阻抗的偏差以及结构效应这两种引起反射的因素, 回波损耗
在TIA/EIA 568-B.1—2001标准中规定:
在ISO/IEC 11801—2002标准中规定:
在上述规定中, TIA/EIA 568-B.1—2001标准与ISO/IEC 11801—2002标准是一致的, 只是ISO/IEC 11801—2002标准中的RL经过一定的运算。表5为YD/T 1019—2001标准与TIA/EIA 568 B.1—2001标准和ISO/IEC 11801—2002标准对100 Ω的5e类缆RL规定的对比。
3 数字电缆的测试方法
按YD/T 1019—2001标准进行测试时, 需先取一段物理长度为100 m的数字电缆, 其取样方式可通过智能测长仪等设备取样, 按标准规定采用频域扫描法测量。一般以矢量网络分析仪作为核心部件, 或以分立的扫频信号源、接收器作为核心部件;以巴伦作为平衡器件, 对测试端口进行阻抗匹配, 这种方法的测试精度比较高。
由于TIA/EIA 568系列标准与ISO/IEC 11801—2002标准对测试方法的定义基本相同, 因而其极限值相差不多。通道测试的标准测试模型一般是按照最长90 m的水平布缆、信息插座、靠近工作区的可选的附属转接连接器、在楼层配线间跳线架上的连接跳线和用户终端连接线, 总长度不超过100 m而制定的;永久链路测试的标准测试模型一般是按照90 m水平布缆和2个转接/汇接头, 必要时再加1个可选转接/汇接头, 测试电缆总长度不超过90 m而制定的。无论是通道测试还是永久链路测试, 都涉及到与数字电缆配合的连接硬件性能, 以及数字线缆的安装等问题。所以相对来说, 各个技术参数指标比对单纯数字电缆的要宽松一点, 这就是造成有的生产厂家用自己工程上用的仪表检验通过的数字电缆拿到检验机构测试就通不过的原因。测试方法一般采用时域反射法。时域反射法是将一窄脉冲从电缆的一端输入, 同时在发射端探测反射信号, 然后对反射信号进行数字化, 并对这些量化的信息进行包括傅立叶变换在内的各种数据处理, 最终求出电缆参数值, 其原理与OTDR非常类似。由于窄脉冲在频域内体现的是一宽频谱信号, 当这一复合信号在电缆内传输时, 会在电缆的不均匀点产生反射, 反射信号返回发射端, 探测器在发射端探测电信号, 所以从电信号的发射到信号的接收, 电信号经过了两个电缆长度的衰减。由于高频信号经两次衰减后, 信号强度会变得很小, 会直接影响到测试仪器的动态范围及精度, 同时由于存在多次反射信号, 可能进一步降低测试精度。但基于时域反射法原理制造的仪器, 体积可以做得很小, 易于携带, 成本低, 特别适合于工程布线检测。
4 结束语
在综合布线系统运用越来越广泛的今天, 人们对网络传输的介质要求越来越高。数字电缆从早年的3类、4类到现在的6类、7类, 带宽从16 MHz到600 MHz甚至更高, 而级别越高的数字电缆的生产控制环节越多, 各个电气参数相互制约影响, 所需测试的参数越多, 对参数的要求也越严格, 必须严格控制才能保证电缆质量, 因此测试也越来越重要。本文旨在通过对目前我国通信行业最常用的三种数字电缆标准的论述, 使数字电缆生产商、集成商、用户在概念上更加明晰。希望今后生产厂家不要再因为运用不正确的测试方法, 产生错误测试数据, 而最终给出错误结论, 使得那些标称着5e类、6类的数字电缆实际上只能达到5类的水平。
摘要：阐述了YD/T 1019-2001I、SO/IEC 11801-2002、TIA/EIA 568系列标准在测试数字电缆时的主要差异。通过对标准中各项核心指标的比较和分析, 希望引起业界重视, 提高对数字电缆测试方法以及测试标准的正确认识, 走出以往的测试误区, 以达到使测试人员能正确选择测试标准、避免误判的目的。
关键词：数字电缆,测试,标准
参考文献
[1]信息产业部.YD/T 1019—2001数字通信用实心聚烯烃绝缘水平对绞电缆标准[S].北京:人民邮电出版社, 2001.
[2]TIA/EIA.TIA/EIA 568 B.1—2001 Commercialbuilding telecommunications cabling standard part1:general requirement[S].TIA/EIA:[s.n.], 2001.
[3]TIA/EIA.TIA/EIA 568 B.2-1—2002 Commercialbuilding telecommunications cabling standard part2:balanced twisted pair cabling components addendum1-transmission performance specifications for 4-pair 100Ωcategory 6 cabling[S].TIA/EIA:[s.n.], 2002.
[4]ISO/IEC.ISO/IEC 11801—2002 Informationtechnology-generic cabling for customer premises[S].ISO/IEC:[s.n.], 2002.
【关键词】数字电路；故障；测试
1.常见的故障
1.1永久故障
1.1.1固体电平故障
如果电路某处逻辑电平始终保持不变，则该故障就是固体电平故障，例如，接地故障就是典型的固体电平故障，其故障点的电平始终保持为0。
1.1.2固定开路故障
该故障常常发生在CMOS电子线路中，当CMOS电子线路中的输入管没有连通其它路而引起悬空或者栅极引线而发生断开现象，此时CMOS门电路的输出端的电阻是非常大的，即会发生短路，这样的故障就是开路故障。因为在CMOS门电路中输入电阻和输出电阻都是相当大的，所以，输出电平在某段时间内是不会发生变化的，这是由于门电路输出与下级门电路之间的分布电容有存储电荷的作用。
1.1.3桥接故障
由两根或者两根以上的信号互相短路而引起的故障就叫做桥接故障，引发该类故障的原因有：印制电路的焊接不小心、裸线部分太长等等，一般而言 ，桥接故障分为如下几种类型：（1）由于输入信号线间的桥接引起的输入端桥接现象；（2）输入端和输出端相互连接引起的反馈桥接。桥接故障会使电子线路的逻辑功能发生很大的变化。
1.2间歇故障
间歇故障的发生具有偶然性，在故障发生的时候很容易引起电路相关功能的出错，但是故障一旦消失，功能就马上恢复了。时有时无是间歇故障的表现形式。如果是虚焊、引线松动等因素造成的间歇故障，则应该要通过人工修理来消除故障，如果是电磁干扰因素造成的间歇故障，则只要对其屏蔽就可以了。
2.出现故障的主要原因
2.1没有正确安装布线
若在集成电路芯片安置以及布线安置的时候不合理，那么就会带来较大的干扰。尤其是电子元件安装错误、漏断线以及安装时出现桥接、没有适当地处理闲置输入端、没有加入或者错误地加入使能端信号等，都是引发故障的重要因素。
2.2接触不良
接触不良在数字电路中普遍存在也是最容易发生的故障。例如接插件松动、接点氧化、虚焊等等，信号的时有时无是该故障的主要表现，故障的发生也带有一定的偶然性。选取质量较好的接插件，从工艺上确保焊接的质量能有效地减少这种故障的发生。
2.3在设计的过程中没有对电子线路的参数以及工作条件进行分析
2.3.1电子线路没有良好的负载能力
一般而言，一个与非门在输出低电平的情况下最多可以带 10个同类型的门电路，如果所带门电路数超过10，则很容易导致输出低电平快速增大，最终会造成电子线路功能的丧失，系统也将无法照常运转。同样，输出高电平如果外接负载也不能有此情况的发生。可以加强电子线路的负载能力。
2.3.2电子线路没有较高的工作速度
当对电子线路输入一组信号的时候，在电路内部的延时作用下在获得稳定的输出以后，才可以将第二组信号输入进去。若电子线路工作速度过低的话，会引起延时的加长，在输入很高的脉冲频率情况下，则会很容易出现输出不稳定的现象，这种故障是很难查出来的，所以，在设计电路时，要考虑到其工作速度。
2.3.3半导体器件没有良好的热稳定性
半导体元件的性质与温度有关，主要体现在如下两种情况：（1）在开机的时候设备的工作是正常的，由于温度在不断升高，会出现问题，关机冷却后再开机又可以正常地工作；（2）温度很低的情况下，出现问题，由于温度不断地升高，又可以正常地工作。因此，在进行设计的过程中可以选择具有良好热稳定性的电子元件来解决该问题。
3.数字电路故障测试方法
数字电路的故障测试基本分为以下三步：一是对故障进行测试和隔离；二是对故障进行定位；三是对故障进行诊断和排除。
（1）故障的测试和隔离：对任何电路进行故障诊断，首先应通过考察故障特征以尽可能地缩小故障范围，即进行故障隔离。在通常情况下，当电路的信号消失以后，我们可以借助测试探头在电路信号相互连接的路径上进行测试与诊断，这样一般就比较容易找到了电路消失的信号。而且一些测试探头上，都具有逻辑存储装置的。这样，我们就可以运用这一功能来测试和诊断数字电路上脉冲信号活动的具体情况。当信号出现时，就可以把信号存储起来，并在脉冲存储器上显示出来。可见，通过查找数字电路之间的脉冲信号，可以把故障进一步缩小在一定的范围内，进而测试出电路的故障所在。
（2）故障的定位：当把故障隔离到单元电路中，就可以用逻辑探头、逻辑脉冲发生器和电流跟踪器等来观察电路故障对工作的影响，并找到故障源。我们可以运用逻辑探头来检查数字电路上的脉冲活动情况，进而测试和观察电路的输出、输入信号的活动情况。以这些活动情况和信息为出发点，可以判断数字电路运行是否正常。
（3）数字电路的故障诊断和排除：实际上，相对于数字电路故障的测试而言，其诊断比较简单。这是因为除了三态电路以外，其输入、输出状态仅有高、低电平两种。在对数字电路故障进行诊断时，首先我们可以进行动态测试，逐步缩小故障的范围。然后，再进行静态测试，进一步查找故障的具体方位。这就要求我们在测试和诊断电路故障时，要有适当的信号源以及示波仪器，而且示波仪器的频带一般应当大于10MHZ，同时要仔细观察数字电路输入、输出的具体情况。
具体的测试方法通常有一下几种：
（1）直观检查：线路连接检查和集成器件的连接检查是直观检查两种常见的类型，线路接错引起的故障是很普遍的，甚至还可能导致元器件的损坏。因此，要正确的画出安装接线图，一旦出现故障，就可以对照接线图检查实际电路，看有没有漏线、断线、错线的现象，尤其要注意电源线和地线的接线有没有错误 ，在检查集成器件的连接情况时，首先要检查外引线和其它路的连接以及集成器件插的方向有没有错误，存不存在不允许悬空的输入端没有接入电路的现象。
（2）测量电容、电阻等分立元件：先将电源关闭，通过万用表“欧姆*10”档对电源线与地线端间的电阻值进行测量，以把电源输出端与地线端间可能存在开路或者短路的情况排除掉。接下来就要检查元件，在对电解电容器进行检查时，要先把电解电容对地短路，使电容器中的电荷全部释放出来，然后看电容有没有被击穿以及是否存在漏电严重现象，这样可以避免万用表的损坏。
（3）静态测试：静态测试一般是对电路以及电源电压进行测试。在测试电路时，首先要保证电路处于某一输入状态，对照真值表，对电路的功能进行分析。一旦发现问题，就要再次测量，接着调节电路使之处于某一故障状态，用万用表对各器件的输入电压和输出电压的逻辑关系进行测量，看符不符合要求，最终确定发生故障的点。测试电源电压时，要用万用表对电源的输出电压进行测量，看有没有错误，除此之外，还要对电路外引线的地线端和电源端的电压进行测量，看符不符合要求。
4.结束语
数字电路的广泛应用，提高了电器的使用和质量，（下转第168页）（上接第54页）促进了电器产品性能的进一步提高。但是，我们应该清醒地认识到，数字电路运行过程中存在这样那样的故障及问题。因此，我们必须高度重视故障的测试，积极探索行之有效的策略措施，全面提高数字电路的应用水平和运行质量，不断拓宽其使用范围。通过本文，对数字电路故障的测试方法有了比较详尽的了解。在实际的测试过程中，应根据电路故障的具体情况，选择恰当的测试方法。
【参考文献】
本次性能测试的系统是X银行营销服务系统总行版，该系统使用的数据库服务器、应用服务器均布署在总行机房，各地分行通过 WEB 方式登录访问本系统。系统上线后的总用户数（包括各分行、支行主管，客户经理等）在 5000 左右。
该系统采用 DB2 数据库、WebLogic 应用服务器。
本次性能测试进入的条件是系统的代码已经基本完成并经过功能测试。
2、测试计划
在确定了本次性能测试的要点后，我们初步拟定一份性能测试计划，提交给客户，并获得了客户的认可。在本文中不列出项目测试计划中的所有内容，仅就主要问题进行说明。
测试范围：在真实业务局域网测试环境下，对系统实施并发性能测试的同时，监控 Web 服务器和数据库服务器的系统资源，以及数据库资源的使用情况。
测试内容：并发性能测试、系统资源监控。
测试方法与工具：采用自动测试与人工测试相结合的测试方法，测试工具使用 LoadRunner。
测试资源：测试环境及测试数据准备。
3、测试用例
确定了测试计划，我们针对该系统的特点，从中挑选出三个有代表性的功能点，作为本次性能测试的用例。我们认为作为银行的营销服务系统，最常使用且对于系统的整体性能有着较大影响的是“客户信息查询”和“客户对账单查询”两个模块。因此，我们设计了三个单交易性能测试用例，分别是：“用户签到 / 签退”、“客户信息查询”、“客户对账单查询”。然而客户却对此提出异议，他们认为我们设计的测试用例数量太少，要求我们的测试用例应包含更多的功能模块。经过会议讨论，最终我们根据客户给出的一份性能测试大纲，针对其中提出的测试内容、测试策略，以及测试目标，将单交易测试用例增加到十四个。
测试用例采用以下格式：
要求清晰地描述出详细的操作步骤。
4、测试数据
针对以上设计的测试用例，需要准备大量的业务数据。本次性能测试的环境即系统上线后真实运行的环境，所有的业务数据均来自兴业银行的真实核心系统（通过 ETL 转换），数据量已经能满足测试的需要。
由于测试用例中要求执行并发操作的时候使用不同身份的用户登录系统，因此在测试开始前需要准备一批具有不同身份的用户名（包括各分支行的主管以及客户经理），并且要有相应的操作权限。
对于“积分转移”、“积分兑换”、“礼品兑换”等等交易，则需要提供一批卡上有足够积分的客户理财卡号。
以上测试数据由兴业银行负责提供，在性能测试执行之前提供给我们。
5、测试脚本
使用性能测试工具 LoadRunner 录制并调试测试脚本，对相关的输入项进行参数化。
6、测试实施
在 LoadRunner 中执行测试脚本，实施性能测试。对于每个单交易测试脚本各执行一轮测试，并按一定的用户比例设计出一个混合交易场景，令其自动持续运行五小时左右，观察系统的性能表现。每次执行的结果文件均保存下来，待测试完成后连同性能测试报告一并交付客户确认。在此过程中，需要监视相关的系统资源使用情况，包括：应用服务器和数据库服务器的所有系统资源指标，所有数据库资源指标。
7、测试结果
经过本次性能测试，发现了系统五个主要的性能问题。我们与程序开发人员一同分析问题产生的原因，并给出改进建议，一起记录到测试报告中。其中的一个问题在性能测试报告提交客户之前已经过优化，得到显著改进。
8、测试结论
测试结果显示，系统性能能满足测试目标，交易并发数达到或超过30个，批量交易（查询记录50条以上的交易）并发数也能达到或超过10个，交易平均响应时间在2－12秒内，90％平均响应时间在2－15秒间完成。
混合交易案例持续运行 5 小时，运行结果正常，系统没有报任何错误，系统稳定，可用率应达到100％。
另外如在ETL批处理期间运行 营销服务系统，系统性能明显下降，建议ETL批处理在夜间处理，避免影响 系统的正常运行。
9、经验
在本次性能测试的过程中，我们遇到一些问题，通过解决这些问题，从中获得了一些经验。现总结如下：
问题一
在我们对系统进行测试的过程中，某些操作是相关联的。例如我们测试“查看客户资产历史” 这个交易的系统响应时间，这时需要先列出客户的基本信息，选中一个客户，点击打开另一个页面，才能查看到该客户的资产历史信息，同时，在测试脚本中需要对所选择的客户编号做一个参数化，但由于 LoadRunner 不提供像 WinRunner 或 QTP 一样识别页面对象的功能，如果在 Vugen 中直接抓取页面上显示的客户编号去参数化，实现起来将十分烦琐。考虑到在以上那两步操作中，第一步“列出客户基本信息”只是辅助的操作，而第二步操作“查看客户资产历史”才是我们要测试的功能点，因此我们忽略了这二者之间的关联性，仅对第二步操作中的客户编号进行参数化。（只要服务器端对此不加验证，甚至我们将第一步操作都忽略掉，也是可行的）。
结论： LoadRunner 的工作原理是根据所选择的协议组装成相应的报文在前后台之间通讯，以此达到模拟实际操作的目的，因此我们只需将要测试的交易或功能点所需要组装的报文传送给后台服务器即可（因为我们关注的只是系统的性能，不是功能），而不必像功能测试那样，按部就班地重现每一步操作。
问题二
在测试过程中，我们发现有一个查询交易的系统响应速度特别慢，无论是在 Controller 中使用单个虚拟用户执行脚本，还是在 Vuser 中直接运行，情况均是如此，然而当我们用手工进行同样操作的时候，响应时间却明显地小于工具统计出来的时间，也就是说，在 LoadRunner 中模拟操作的结果与真实操作的结果明显不一致。经过反复尝试与观察，我们才终于找到问题的原因所在：该查询交易是通过客户的证件号码查询客户信息，当用户输入客户的证件号码时，如果没
有选择证件类型，系统会自动将证件类型设置为默认值“身份证”。按“证件类型 + 证件号码”为组合索引查询客户信息表，查询速度极快，而在我们录制脚本时，忽视了“证件类型”这项输入，只有“证件号码”，因此查询的效率大为降低。解决办法：只需在测试脚本中，对 CertType（“证件类型”）一项赋值为“ A ”（“身份证”），此时在 LoadRunner 中重新运行该脚本，响应速度提高，统计结果与实际完全一致！
结论： LoadRunner 的工作原理是根据所选择的协议组装成相应的报文在前后台之间通讯，以此达到模拟实际操作的目的，因此我们在测试脚本中组装发送到服务器端的报文时，注意一定要和实际操作时的发送报文完全一致，这样才能保证测试的结果与真实情况相吻合。这就要求在测试正式开始执行时，要对测试脚本进行反复的调试，通常的做法是：在 Vugen 中执行一遍脚本，统计执行某个事务的时间，再用手工实际做一遍同样的操作，大体上比较一下，确保与实际估算的时间没有太大出入后，再逐渐增加并发用户数，正式开始性能测试。
问题三
在我们的每个测试脚本中的 init 部分，都录制了登录系统的操作，并且对登录的用户名进行了参数化，使用各种不同身份的用户（分行主管、支行主管、客户经理等）进行相同的操作。在并发测试过程中发现对某些查询交易测试的结果波动较大，系统响应时间从零点几秒到几十秒不等。经检查后发现原因在于：使用不同身份的用户登录系统后，在输入查询条件后，点击查询按钮后会将根据该用户的身份，将其所属的分行机构号、支行机构号、客户经理编号等一并提交，因此在脚本中，就必须根据不同的用户身份，分别将其对应的分支行机构号等也运用参数提交，否则在执行脚本时就会出现查询不到记录或查询速度变慢等各种问题。解决方法有三个： 1、修改脚本，使其能够依据用户的身份分别传送相应参数，2、针对不同类型的用户使用不同的脚本分别测试。3、输入参数使用统一的用户类型。在实际中，我们为了简化脚本的复杂度，节省对脚本编程的时间，采取的是第三种方法。
结论：由于 LoadRunner 的工作原理是根据所选择的协议组装成相应的报文在前后台之间通讯，因此它会跳过在应用程序前台进行的校验，所以在脚本回放的时候一定要注意在脚本中提前进行这些校验或改由人工控制，以保证发送报文的正确性（如操作权限的控制等）。
问题四
测试多用户并发登录系统的时候，从虚拟用户图和事务图上发现，总有一部分用户在登录的时候要等待很长时间，用户登录的最小时间与最大时间相差非常大。于是我们在让脚本自动运行的同时，手工再登录一个用户，发现无论如何都不会发生等待的情况，多次试验的结果均是如此，也就是说 LoadRunner 测试的结果与实际结果再次发生了偏差！经过反复的调试，以及与程序开发人员沟通，我们终于发现问题的原因所在：在用户登录系统的时候，系统会自动记录登录用户的信息，并产生一个登录 ID，以此 ID 做为主键，向数据库插入记录。因此当大量用户在极短的时间内同时登录时，就有可能出现生成相同的登录 ID 的情况，此时便会造成数据库中的主键冲突，导致用户等待很长时间或登录失败。而我们手工测试时却无法做到在很短的时间内同时登录，因此很难用手工重现此种
情况。通过 LoadRunner 的模拟表现出来的状况，正是我们测试出程序存在的性能问题，并非与实际结果的偏差。
还有一个例子，在第二轮性能测试中，同样发生了类似的情况。在本系统中，如果同一个用户登录后，未正常退出超过 5 次，系统将会把该用户锁住，使其无法再次登录，而我们用于参数化的用户名个数有限，因此当脚本使用大量用户同时登录时，很容易造成同样的用户登录系统而未签退的情况发生（脚本正在执行，还未能退出），此时将会造成许多用户操作的失败。
结论：使用 LoadRunner 可以模拟出大量用户同时对系统操作的情况，而这些情况通过手工往往是很难重现出来的。例如大量用户在同时对系统做某些操作时，很容易造成数据库的死锁、锁等待、主键冲突、数据混乱等等问题，因此在做性能测试的同时，也常常可以连带测试出系统的一些隐蔽的“缺陷”。在本次性能测试中，这种例子是很多的。对待此类“缺陷”，应具体情况具体分析。有些确实是程序的 BUG，需要修正，而有些可能只是很极端的情况，只有在做压力测试时才有可能发生，可不必深究。
问题五
此问题发生在第二轮测试（即回归测试）中。在第一轮测试中发现的性能问题，经程序员修正后，我们对系统进行了第二轮性能测试，以验证其性能改进的效果。在前一轮测试中，我们发现通过选择客户级别为“未评级”时，查询的速度极慢，经过改进后，速度应有较大提高。然而在回归测试中，却依然很慢。经过对测试脚本和程序的仔细检查，才发现原来在程序中已将“未评级”这个选项去除，而我们的测试脚本的参数文件中仍然保留有该选项，因此测试的结果与前次没有区别。在参数文件中将该选项去掉后，测试结果正常，查询效率有所提高。
结论：使用录制好的测试脚本进行回归测试之前，一定要先仔细检查、了解程序的改动，对原先的测试脚本做必要的修改后，才可以重新测试，否则只是在做无用功。
10、教训
在本次测试过程中，由于经验不足，我们也得到了一些教训。前事不忘，后事之师，现总结出来与大家分享。
l 与客户的沟通做得不够，客户要求我们做的性能测试用例数量太多，我们未能据理力争，最后导致工作量过大。
l 按照原定的项目计划，我们要在系统的功能测试即将结束前进驻项目组，准备并进行性能测试。然而由于客户在功能测试的后期仍然不断的提出新需求，导致开发人员疲于奔命，系统的性能难以稳定下来，性能测试的前期准备工作也受到很大影响，不能正常开展，浪费了很多人力物力。
l 由于客户无法提供一个单独的性能测试环境，我们的性能测试工作与业务组的功能测试在同一个环境下进行，而系统的功能测试迟迟未能完成，加上 ETL（数据转换）小组对数据库资源的占用，因此我们的性能测试只能在夜间才能进行。导致时间上的浪费，使项目的成本增加。
l 没有将性能测试中发现的缺陷记录到缺陷管理工具中加以跟踪，而仅仅体现在最后的测试报告上，个人认为这是比较不规范的做法。
l 性能测试前的数据准备不够充分。客户提供测试的系统用户、身份数量有限，导致许多案例的测试只能使用少量数据进行参数化，由此带来许多本可以避免的问题。
l 测试计划及测试报告的书写格式缺乏规范，尤其测试计划书未能包含本应包含的所有内容。
l 在我们将 LoadRunner 的测试结果文件全部提交给客户的前提下，客户仍然要求我们在测试报告中将每一次测试的数据均以表格的形式填至测试报告中，此项工作的工作量十分巨大，个人认为这样做并无必要。
测试成绩：100.0分。恭喜您顺利通过考试！单选题
1.定量调研一般采用的方法是： √ A B C D 小组座谈会
深度访谈法
专家意见法
抽样调查法
正确答案： D
2.目前调查业中广泛采用的方式是： √ A B C D 问卷调查
专家访谈
电话专谈
随机访问
正确答案： A
3.市场细分的理论基础是： √ A B C D 使银行的营销更具有针对性
客户需求既有差异性又有相似性
有利于银行集中优势力量抢占蓝海
提升银行的核心竞争力和形象
正确答案： B
4.商业银行选择目标市场的标准通常不包括： √ A B C 盈利机会
市场机会
内部机会 D
外部机会
正确答案： D
5.下列不属于商业银行市场定位的是： √ A B C D 形象定位
战略定位
国际定位
客户定位
正确答案： C
6.赋予老产品以新的特点，或是延伸、完善金融产品的功能，以满足客户的新需求的是： √ A B C D 发明型新产品
改进型新产品
模仿型新产品
组合型新产品
正确答案： B
7.银行组合产品的第二步是： √ A B C D 包装
设计
营销
灌输理念并推销潜在产品
正确答案： A
8.客户日需求量大、适用广、客户又能及时方便地购买金融产品时，银行可以采用哪种策略： √ A B C 普遍性营销渠道策略
选择性营销渠道策略
专营性营销渠道策略 D
复式营销渠道策略
正确答案： A
9.与单一渠道相比，复式营销渠道的缺点是： √ A B C D 不能有效地扩大市场面
不利于增强竞争力
增加了管理和控制的难度，也容易造成市场混乱
目前很少银行在用
正确答案： C
10.关于设立目标，下列说法正确的是： √ A B C D 目标要远大
目标所用的词语一定要正面
先设定大目标、长期目标，再设定小目标、短期目标
目标要有挑战性，越高越有动力
正确答案： B 判断题
11.调研报告一般包括调研目的、调研方法、调研结果及资料分析、对策建议和附录等内容。√
正确
错误
正确答案： 正确
12.遇到产品和服务的融资业务，√ 即消费融资业务，提供产品和服务的终端个体用户往往对其采取主动。正确
错误
正确答案： 错误
13.效仿竞争对手的新产品是银行新产品的重要组成部分。√
正确 错误
正确答案： 正确
14.客户的口碑式宣传，比银行自己做广告效果要好得多。√
正确
错误
正确答案： 正确
15.人员促销是一种适用于一定时期、一定条件下的短期特殊推销方法。√
正确
错误
征求意见稿已获通过 数字市场激斗或将开场
政府主导 81号到666号
我国从2005年开始研发数字对讲机至今已经有八个年头了，紧接着于2006年，个别厂商就率先推出了第一款数字对讲机，但那时政府还没有有关数字对讲机的标准，工信部无线电管理局也没有对数字对讲机提出任何指标和要求。后不久，部分厂商自发提出了编制数字对讲机标准的想法，也组织了一些单位，开始从事一些与标准相关的工作。
2007年9月13日，无线电管理局以信息产业部（现工信部）的名义发布了“信无函[2007] 81号关于发布《数字对讲机系统设备无线射频技术指标要求》（试行）的通知”的文件。这是我国政府发布的有关数字对讲机的第一个文件。文件有一个附件，即《数字对讲机设备无线射频技术指标要求（试行）》。
在81号文件的基础上，工信部于2009年又发布了“工信部无[2009]666号文件《工业和信息化部关于150MHz/400MHz频段专用对讲机频率规划和使用管理有关事宜的通知》”。这是现在为我们所熟知的一个文件，也是我国对讲机设备模转数的关键文件。该文件有两个附件：
附件1：150MHz、400MHz频段专用对讲机频率分配方案
附件2：150MHz、400MHz频段数字对讲机设备无线射频技术指标
666号文件的颁布，标志着拉开了我国专用对讲设备从模拟体制向数字过渡的帷幕。历时三年 终获突破
由于数字化的专用对讲设备在技术体制、接口协议和语音编码等多方面与原有的模拟技术体制完全不同，为了适应当前技术和市场发展的需求，非常有必要制订专用数字对讲设备的技术标准。因此，2008年国家无线电监测中心向国家标准化管理委员会提交了编制我国数字对讲机标准的申请。
不久，国家标准化管理委员会发布“国标委综合[2008]154号文件《关于下达2008年第三批国家标准制修订计划的通知》”，批准了无线电监测中心的申请。
于是，国家无线电监测中心作为标准起草牵头单位，联合海能达通信股份有限公司、广州海格天立通信息技术有限公司、北京交通大学、哈尔滨工业大学、清华大学深圳研究生院成立了标准起草组。他们按照国家标准化管理委员会的“国标委综合[2008]154号”文件的要求开始标准的制定工作，共同启动了《专用数字对讲设备技术要求和测试方法》的起草工作，并于2009年6月在北京召开了第一次协调会。
经过了3年多的工作，标准起草组向国家标准化委员会提交了标准审定文本。中国通信标准化协会根据国家标准管理委员会下达的国家标准计划，于2012年5月22日在北京召开了国家标准项目“数字对讲设备技术要求和测试方法”（项目计划号：20080985-T-339）标准草案征求意见会。这次会议主要是与会专家对标准起草组共同起草的《专用数字对讲设备技术要求和测试方法》第1部分——通用技术要求和测试方法进行评审。当时，鉴于国内专用数字对讲设备技术体制的多样性，厂商之间在空口协议、语音编码等方案存在较大分歧，因此经历了很长时间的研究、讨论和协调，最后只能先确定《数字对讲设备技术要求和测试方法》这一部分。并提出整个标准将制订成系列标准，并确定分为四个分标准。它们是：《专用数字对讲设备技术要求和测试方法 第1部分《通用技术要求和测试方法》、第2部分《空中接口协议》、第3部分《语音编码规范》和第4部分《互操作性技术要求和测试方法》等。但会上国家标准管理委员会等专家们指出，以后若需制订第2、3、4部分，则均需重新申请制订标准，这个时间将会拖得很长。因此专家组建议，把四个部分统一起来仍然为一个标准，但必须加快，并希望在制订标准中要整体考虑、加快速度、协同推进；要互利共赢、技术创新；要解决好知识产权、促进产业有效发展。
四种体制 各得其所
经过标准起草组将近一年的协调、讨论和辛勤努力工作，终于重新组织并按2012年的会议上专家组提出的要求完成了标准征求意见讨论稿。于是2013年4月26日中国通信标准化协会再次组织召开国家标准项目“数字对讲设备技术要求和测试方法”征求意见会。
标准是依据GB/T 1.1-2009《标准化工作准则第一部分：标准的结构和编写》的规则编制。标准的部分内容参考了国家无线电管理局发布的666号《工业和信息化部关于150MHz/400MHz频段专用对讲机频率规划和使用管理有关事宜的通知》、GB/T 15844系列、GB12192、GB12193、ETSI EN 300 113-
1、ETSI TS 102 361、ETSI TS 102 658系列等现行的国内外标准。
这个标准对专用数字对讲设备的空中接口协议进行了详细的规定，其中包括两种时分多址和两种频分多址空口协议体制。体制A为基于欧洲标准ETSI TS 102 361并结合国内企业的部分技术创新形成的时分多址技术方案，适用于中高端用户群体；体制B为国内企业自主创新的时分多址技术方案，适用于部分特殊行业用户；体制C为国内企业自主创新的便于我国东南沿海一带中小规模对讲机企业研制与生产的低成本频分多址技术方案；体制D为基于欧洲ETSI TS 102 658的频分多址技术方案。
本标准还规定了数字对讲设备基站/转发台、移动台（车、船载台）、手持台的主要业务功能、技术参数、限值要求和测试方法等内容。技术参数主要涵盖了电性能要求、电磁兼容要求、电磁暴露要求、电气安全要求、环境试验要求等，以及对应的测试方法。
提交这次会议讨论的征求意见稿规定了专用数字对讲设备的主要技术参数、限值要求、测量方法、空中接口协议和声码器等内容。
经过专家组的咨询和认真讨论，认为标准内容完整、合理、适应国内专用数字对讲设备产业发展需求。标准的技术体制既推动了国内产业的自主创新，也注重对国际先进技术的融合，既有利于外向型企业的发展，也满足了互利共赢、技术创新等要求，同时也提出了较好解决相关知识产权问题的办法。标准可以作为专用数字对讲设备制造商和使用部门在进行设备研发、生产、测试及产品市场准入等环节的参考依据。
专家组肯定了起草组多年来的工作成果，一致同意通过征求意见稿，并建议起草组尽快以提出的意见和建议，对标准文本及格式进行修改，形成标准的送审稿。
1.1 电压测试技巧
在维护过程中,技术人员可以采用线路电压测试功能,对输入电压以及交直流电压自动进行识别,其中测量在10～110 V范围内,若直流电压混进交流电压中,那么就会显示大电平。技术人员对网络电压和电平进行在线测试,就能够初步判断虚电压位置和故障位置。
1.2 电缆质量测试技巧
技术人员可以利用电缆损耗补偿功能来测试电缆的质量,在具体实践过程中,技术人员应将110 MHz频点与510MHz频点间每100 m损耗的Fa与Fb输入测试仪器中,利用仪器计算出待测频道的损耗值,将各频点理论损耗值与实际损耗值进行对比,根据差异对电缆质量进行判断。
1.3 快速扫描测试技巧
CATV频道计划表的设置,能够对6个频道的电平、数字频道MER指标或者模拟频道C/N指标进行快速扫描。在维护过程中,技术人员可以对几个主要频道进行设置,这样就能够在较短时间内初步了解系统网络设备的运行情况。
1.4 频谱分析测试技巧
频谱分析共包含三种方法,分别为频率频谱分析、斜率频谱分析和频道频谱分析。利用斜率频谱分析和频道频谱分析,能够明确常规问题。借助频率频谱分析法能够初步判断是否存在干扰信号或者畸变导致接收障碍等。其中,频道分析法和斜率频谱分析法也存在一定差异,利用频道频谱分析能够一次性观察120～870 MHz范围内36个频道的电平,而在使用斜率频谱分析法时,使用者首先必须要将频道列表以及斜率频道列表进行保存。
2 数字电视指标分析
当前,大部分网络系统都是纯数字电视系统,所以技术人员在维护过程中将电平、载噪比、调制误差率、误码率等当作评估网络运行质量的标准。
2.1 数字电视电平
数字电视电平具体是指在有效带宽范围内,所选中频信号或者射频信号均方根值的功率。利用正交幅度调制方式调制的数字电视信号,在整个限定的带宽内,载波电平都是平顶,无峰值,所以不存在图像载波电平。因此,正交幅度调制数字频道电频都是通过被测频道信号的平均功率进行表达。
2.2 载噪比
载噪比是指已经调制信号的平均功率/噪声平均功率。其中,已经调制的信号功率包括两种:传输信号功率、调制载波功率。载噪比的主要作用是判断噪声干扰相对调制的强弱程度,其能够将噪声干扰和调制信号间的强弱关系直接表现出来。
2.3 调制误差率
调制误差率是指符号位置/理想位置的参数,调制误差率相似数字信号质量判断中具有重要作用。调制误差率不是代表该信号出现误码情况,其表示此信号在未误码时的质量。调制误差率能够将数字信号调制、传输过程中收到的损伤精确表现出来。
2.4 误码率
误码率表示比特数/传输总比特数。通过观察误码率的高低,能够明确系统质量的好坏。其中,误码率分为两种形式:RS解码前的误码率、RS解码后的误码率。一般情况下,如果RS解码前,误码率低于10-4,RS解码后,误码率在一天后低于10-11,那么短期测量能够采用15分钟,而且不会发生误码。如果信号质量较好,那么解码前误码值与解码后误码值应相等。如果存在一定干扰,那么解码前误码值与解码后误码值就会出现差异,而且纠错后,误码率会更低。
2.5 误码率与载噪比、调制误差率的关系
第一,载噪比对误码率的影响:误码率的测量结果一般都是采用工程表示法,误码率越低,表示传输质量越好。针对具有加性高斯白噪声的理想信道,确定Eb/No之后,若误码率想要达到一定数值,那么信噪比的数值为(Eb/No)×(R/B),其中,Eb表示限号每比特能量,No表示传输先到噪声功率谱密度,R表示比特率,B表示检波滤波器等效噪声带宽。
第二,调制误差率对误码率的影响:调制误差率表示调制后符号位置与调制后理想位置的比值。如果信号越好,那么调制后的符号就会越靠近理想位置;反之,就会离理想位置越远。充分利用调制误差率能够有效量化噪声,减少入侵干扰。所以,为保证系统中误码率的正常,技术人员应对载噪比和调制误差率进行科学控制,保证数字机顶盒能够正常工作。
3 总结
总而言之,在使用数字电视前,需要熟练掌握其性能和工作原理,提高数据测试的准确性,保证在第一时间解决网络故障。
参考文献
[1]王凡思,张展,张晓林,等数字电视接收机信号参数检测的设计与实现[J].电视技术,2011(8).
关键词：数字电路；测试；故障
中图分类号：TN79 文献标识码：A 文章编号：1674-7712 （2014） 04-0000-01
用来取得定量或是定性信息的基本方法就是测试。测试不仅是信息工程的源头，还是它的重要组成部分。随着如今大规模集成电路的广泛应用以及计算机网络、微电子技术以及通信技术的发展，各种先进装备系统设计还有制造都离不开测试。据资料显示，目前研制设备的总成本中，测试成本所占比重已达50%，甚至70%。能否使电子设备处于完好状态，使其维修更加准确、快捷，都与电路的测试有着紧密的关系。电路一般有模拟和数字两种，相应的可以把电路的测试分成模拟电路的测试和数字电路的测试两种。数字电路的测试基本思想是在电路输入端加上二进制测试矢量，再比较期望值和电路的实际响应，看其是否一致。
一、数字电路测试中关键技术
（一）数字电路的故障模型。模型在工程上是数学抽象与物理实体之间的桥梁，而故障模型是测试中最重要的模型，它是一系列故障或是所有可能发生的失效行为的故障的集合。故障建模需要遵循纪既要有准确性、典型性和全面性，又要具有简单和易处理性。一般建模很难同时满足以上两个相互矛盾的原则，大都采取折衷方案。数字电路中的故障种类多、数目差异大，因而数字电路系统的建模费时费力且不具有通用性。以下只介绍几种数字电路中的几种常见故障。
首先是桥接故障，通常为晶体管或门级的故障模型，一组信号间的短路用一个桥接故障来表示。短路网点的逻辑值可以是0、1或是不确定状态，取决于电路的实现技术。有反馈的桥接故障产生与组合逻辑不同的存储状态，而无反馈的桥接故障通常用固定故障测试，有很高的覆盖率，是组合逻辑。导致电路的组合延迟超过时钟周期的故障叫做延迟故障，有门延迟故障、路径延迟故障、线延迟故障、段延迟故障和传输故障几种。若将MOS晶体管视为理想的开关，则它的故障模型就是开关永久处于短路或是开路状态的固定短路和固定开路故障。固定故障是电路中较为常见的故障，最常见的是单固定故障，指的是每条线上有固定的0或1两个故障，当然也会有多种故障同时出现的情况，一个n条线的电路所有可能故障数=3^n-1。
（二）数字电路的故障仿真。故障仿真是故障诊断技术中不可或缺的重要环节，主要有四种方法，即并行故障仿真、串行故障仿真、并发故障仿真和演绎故障仿真。其中后两种故障仿真通常采用面向实践的表格驱动仿真器，而并行故障仿真一般采用编译驱动仿真器。
（三）数字电路的故障压缩。电路中所有故障的集合可以被划分成若干等价的子集，每个等价子集中的故障是相互等价的。故障压缩是从每一个等价集中选择一个故障的过程。它可以将电路中的故障总数进行压缩，使之达到一个相对较小的值，可以减少产生测试集过程中的工作量。压缩后的故障数与所有故障总数的比值就是压缩比。
（四）数字电路的可测试性度量。可测试分析具有线性复杂度和属于静态类型两个特征。信号的可观测性和可控制性称为数字电路的可测试性度量，其概念起源于自动控制理论。可观测性指观测逻辑信号状态的难度，而可控制性指的是设置特定逻辑信号为1或0的难度。
二、数字电路的测试生成方法
（一）布尔差分法。布尔差分法通过对数字电路布尔方程式进行差分运算来求得测试，可求出所给故障的全部测试矢量，获得测试集的一般表达式。主路径法是在布尔差分法的发展中具有代表性的方法，它将通路敏化的概念引入其中，使布尔差分法的效率得以提高。布尔差分法的理论价值较高，主要是因为它可以将电路描述抽象为数学表达式再进行严密的数学推导。布尔差分法的缺点在于测试复杂性较高的电路时运算量大，处理困难。
（二）D算法。相对于布尔差分法来说，D算法一般只用来测试一个或是一些测试矢量而不是全部，比较贴近实际。电路中的各节点状态用5个值（0，1，x，D， ）来表示。算法步骤主要有故障激活、故障驱赶以及线相容等。D算法具有算法上的完备性，便于在计算机上实现，是目前应用最为广泛的测试生成算法之一。具有代表性的是PODEM（面向通路判定）算法，它具有穷举算法的优点，避免了许多的盲目试探，减少了D算法中判决与回溯的次数。D算法的缺点在于测试生成时的盲目试探时间占用太长，在规模较大的组合电路中太复杂、效率低。
（三）FAN算法。FAN算法是为加速测试生成而提出的，具有以下特点：头线和扇出源节点构成搜索空间；故障值分配给故障唯一确定或隐含的地方；尽可能多的在每一步中确定已唯一隐含的信号值；D边界元件唯一时，敏化通路的选择也是唯一的；知道搜索的启发性信息使用SCOAP；主导线处停止反向蕴涵，其值可以到最后再确认；扇出源的处理采用多路回退的办法。FAN算法的运算速度相对于PODEM算法来说有所提高，回溯次数少、故障覆盖率高，丰富和发展了测试生成算法的基本思想，目前具有代表性的测试性能较好的是SOCARATES算法。
三、数字电路测试的发展趋势
集成电路的设计与生产中电路测试的地位越来越重要，近年来人们不仅完善了已有的测试算法，同时还提出多种新的算法。目前数字电路测试生成发展有以下几个方向：一是对已有测试生成算法的效率进一步提高，同时研制新的测试技术和方法，如降低搜索空间、研制更加有效的搜索策略等；二是研制并行处理方法和专家系统，被测电路中可以相互独立处理的故障若能实现并行处理将会十分省时省力，测试生成若能有效结合专家经验和启发方式也会十分有益；电路与系统越来越复杂，若仍旧依照以往那种测试人员根据已经设计或是研制完毕的电路来研制测试方案的做法已实用，如今需要设计人员设计电路时充分考虑电路的可测试性，进行可测性设计。
如今电路复杂度和集成性都不断提高，这使得电路的测试困难不断加大。人们应开展可测性设计技术的研究，寻找降低集成电路制造、使用和维护成本的方法，提高故障诊断定位的效率，提高数字电路设计、生产以及测试生成的速度。
参考文献：
[1]雷振雄.关于数字电路的故障测试方法研究[J].科技致富向导，2013（14）：78-79.
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